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        深圳市億博檢測(cè)技術(shù)有限公司
        
	
        

	
	
        
		
         
  		  			  			  	
  			  				
        
	
        
	

        



        

 
        


        


 

        
	
        
		
		檢測(cè)認(rèn)證人脈交流通訊錄
	
        

        



        
	
        
		
          
			
        • 產(chǎn)品高低溫測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
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        • 產(chǎn)品高低溫測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)?

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　　可靠性測(cè)試項(xiàng)目中的高低溫測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)是為了證明產(chǎn)品在經(jīng)受不同的環(huán)境溫度下，產(chǎn)品性能和功能都能夠正常的運(yùn)行工作，也可以測(cè)試材料的在不同的溫度下是否發(fā)生變化。

高溫測(cè)試

　　高溫測(cè)試主用來確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。參考的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.2，IEC 60068-2-2，IEIA 364， MIL-STD-810F等。

　　低溫測(cè)試主用來確定產(chǎn)品在低溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于低溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。參考的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.1，IEC 60068-2-1，EIA 364， MIL-STD-810F等。

　　在自然環(huán)境中，溫度和濕度是不可分割的兩個(gè)自然因素，不同地區(qū)由于不同的地理位置，產(chǎn)生的溫度、濕度效應(yīng)也各不相同。本試驗(yàn)是用來確認(rèn)產(chǎn)品在溫濕度氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高/低溫、濕度和曝露持續(xù)時(shí)間。

　　產(chǎn)品為什么要進(jìn)行高低溫測(cè)試呢?我相信這個(gè)問題很多人都有想過， 隨著電子技術(shù)的發(fā)展，產(chǎn)品的集成化程度越來越高，結(jié)構(gòu)越來越細(xì)微，工序越來越多，制造工藝越來越復(fù)雜，這樣在制造過程中會(huì)產(chǎn)生一些潛伏缺陷。產(chǎn)品在生產(chǎn)制造時(shí),因設(shè)計(jì)不合理、原材料或工藝措施方面的原因引起產(chǎn)品的質(zhì)量問題概括以下：

　　第一是產(chǎn)品的性能參數(shù)不達(dá)標(biāo)，生產(chǎn)的產(chǎn)品不符合使用要求;

　　第二是潛在的缺陷，這類缺陷不能用一般的測(cè)試手段發(fā)現(xiàn)，而需要在使用過程中逐漸地被暴露，如硅片表面污染、組織不穩(wěn)定、焊接空洞、芯片和管殼熱阻匹配不良等等。

　　一般這種缺陷需要在元器件工作于額定功率和正常工作溫度下運(yùn)行一千個(gè)小時(shí)左右才能全部被激活(暴露)。顯然，對(duì)每只元器件測(cè)試一千個(gè)小時(shí)是不現(xiàn)實(shí)的，所以需要對(duì)其施加熱應(yīng)力和偏壓，例如進(jìn)行高溫功率應(yīng)力試驗(yàn)，來加速這類缺陷的提早暴露。也就是給電子產(chǎn)品施加熱的、電的、機(jī)械的或多種綜合的外部應(yīng)力，模擬嚴(yán)酷工作環(huán)境，消除加工應(yīng)力和殘余溶劑等物質(zhì)，使?jié)摲收咸崆俺霈F(xiàn)，盡快使產(chǎn)品通過失效浴盆特性初期階段，進(jìn)入可靠的穩(wěn)定期。

　　通過高低溫測(cè)試可以使元器件的缺陷、焊接和裝配等生產(chǎn)過程中存在的隱患提前暴露，老化后再進(jìn)行電氣參數(shù)測(cè)量，篩選剔除失效或變值的元器件，盡可能把產(chǎn)品的早期失效消滅在正常使用之用，從而保證出廠的產(chǎn)品能經(jīng)得起時(shí)間的考驗(yàn)。也減少了產(chǎn)品損失率，提高員工工作效率。


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