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機(jī)構(gòu)登錄
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檢測認(rèn)證人脈交流通訊錄
- 儀器名稱：場發(fā)射透射電子顯微鏡(Field Emission Transmission Electron Microscope)
- 價(jià)格型號：Tecnai G2 F20 S-Twin
- 儀器分類：分析儀器/顯微鏡及圖象分析儀器
- 應(yīng)用領(lǐng)域：化工原料;禮品 工藝品
- 所屬單位：復(fù)旦大學(xué)化學(xué)系
- 所在地點(diǎn)：上海市楊浦區(qū)國定路428號同舟大廈3樓
- 產(chǎn) 地：美國
- 產(chǎn) 商：FEI公司
- 價(jià) 值：0
- 購置日期：0000-00-00
主要技術(shù)指標(biāo)：點(diǎn)分辨率：0.24 nm,晶格分辨：0.102 nm,信息分辨率：0.14 nm, STEM分辨率：0.20 nm EDS(能譜儀)能量分辨率：<127 eV,元素范圍：Be-Cf
功能/應(yīng)用范圍：納米材料，催化材料，高分子材料，介微孔材料以及相應(yīng)的復(fù)合材料的形貌觀察，成分分析和高角環(huán)形暗場像(Z襯度像)的觀察。
主要測試和研究領(lǐng)域：石油/化工材料/珠寶首飾
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