精品视频1区2区3区,91国在线啪精品一区,精品免费人伦一区二区三区蜜桃 ,九九视频这里只有精品99,成人区人妻精品一区二区三区 ,全部av免费在线播放 ,影音先锋男人av橹橹色,亚洲小说图区综合在线
        或者

        深圳市賽特檢測有限公司

        檢測認證人脈交流通訊錄
        • 深圳供應低溫存儲壽命試驗/STT賽特檢測

        • 這真不是您需要的服務?

           直接提問 | 回首頁搜

        • 對應法規:JESD22-A119
          CNAS認可項目:是
        • 實驗目的

          為了考核低溫對試樣的影響,確定試樣在低溫條件下存儲的適應性。該實驗一般用到高低溫 試驗箱。

          實驗原理

          低溫下電子元器件的電參數會發生變化、材料變脆及其材料冷縮產生應力等。使電子元器件 處于低溫環境下一定時間,考核電子元器件的電參數是否發生變化、材料是否變脆、材料冷縮 產生應力有多大等,從而確定電子元器件的抗低溫能力。

          實驗參考標準

          JESD22-A119、IEC60068-2-1、GJB1864A-2011

           


        • 檢測通手機版

        • 檢測通官方微信

        •  檢測通QQ群