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        深圳市儀高南儀器有限公司

        檢測認證人脈交流通訊錄

        美國solar Metrology 太陽能薄膜電池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度測量儀

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          • 美國solar Metrology 太陽能薄膜電池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度測量儀 產品特色∶ 1. 全球唯一能提供NIST等級的標準樣品,與美國NREL共同合作。 2. 超大樣品室,H:56cmXW;54cmXD74cm 3. 可直接儲存及建立各種鍍層的Protocol參數,可設定多點分析,以確定制程品 質。 4. 針對CIGS各種鍍層材質的濾光片,共5種 5. X-Y-Z三軸自動定位,軸承最長距離為8”X8”X6”,并有自動聚焦弁?/div> 6. 具有表面相對等距自動調整系統 7. 采用自然光,LED白光,無色差 8. 采用最新高科技的高靈敏度的電子式冷卻偵測器 9. 具有防撞安全裝置 10. 具有操作時輻射安全裝置 11. 可將實驗室建立的數據直接復制至線上檢測機臺上。 基本規格: X射線發生部 電壓 最大50kV,多段電壓切換 電流 4-1000μA,可做自動調整設定 準直器 共五個 偵測器 Pin or Si 檢測器 冷卻方式 電子冷卻 五種濾波器自動切換 電源 AC110~240V, 50/60 Hz 應用領域: 鍍層厚度分析 (1)分析CIGS各鍍層的厚度及成份同時測量。 (2)分析CdTe之各鍍層的厚度及成份同時測量。 (3)三、五族元素各鍍層的成分比例及厚度分析。 其它型號: 薄膜太陽能檢測設備: 應用于薄膜太陽能電池CIGS及CdTe與III及V族厚度及成份分析。 ● 桌上型成份及厚度分析儀SMX-BEN:全球唯一能提供NIST標準樣品,快速(60秒內)非破壞檢測。 ● 生產制程專用模塊 SMX-FPV: 適合于設備商turn-key使用,直接OEM與生產制程端整合。 ● 實時監測設備(In-Situ) SMX-ISI: 適用于roll to roll、真空與非真空制程腔體內檢測,可耐高溫至 300°C。 ● 產線自動檢測系統(In-Line) SMX-ILH:適用于各種制程產在線不同檢測點上,可依現場Layout 做不同方式進樣。 (聯系電話 13068486856 0755-84444742) http://www.eastco.hk http://www.eastco-hk.com 桌上型成份及厚度分析儀SMX-BEN 生產制程專用模塊 SMX-FPV 實時監測設備(In-Situ) SMX-ISI 產線自動檢測系統(In-Line) SMX-ILH
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          劉偉剛

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