JB4040型β、γ檢測儀

　　適用于β、γ輻射表面污染檢測。儀器采用GM探測器陣列，具有較高的探測效率；同一探頭能測量β、γ射線，同時該儀器也可測量40KV以上的X射線。是環境實驗室、核醫學、分子生物學、放射化學、核原料運輸、儲存和商檢等領域進行β、γ輻射表面污染檢測、或X、γ輻射劑量率檢測的理想儀器，該儀器采用單片機控制，大屏幕LCD液晶顯示器，操作方便、顯示清晰。特點GM探測器陣列，探測效率高便攜式設計，重量輕單片機控制，軟件功能強LCD液晶顯示，會話式操作界面計數率顯示cpm、cps、μSv/h電池失效報警以及探頭故障報警功能主要技術指標計數范圍：1~1000000顯示單位：cpm、cps、μSv/h探測器面積：32cm2靈敏度：≥500CPM/μSv·h-1(對137Cs)儀器本底：每分鐘計數β≤130相對誤差：測量范圍內相對基本誤差≤20%供電電源：2節1.5v普通5號電池，整機電流≤50mA溫度范圍：-10℃~45℃濕度范圍：相對濕度≤90%(40℃)尺寸重量：230×130×45(㎜)、0.64㎏