“高精度晶振綜合測試儀GDS-80”參數(shù)說明

“高精度晶振綜合測試儀GDS-80”詳細介紹

基本介紹

高精度晶振綜合測試儀GDS-80是高性價比的晶振測試系統(tǒng)，采用微處理器技術，實現(xiàn)智能化測量，符合IEC-444標準。高精度晶振綜合測試儀GDS-80測量頻率范圍20KHz-100MHz，附RS-232接口進行數(shù)據(jù)通信。高精度晶振綜合測試儀GDS-80特別適合晶體行業(yè)、郵電、通信、廣播電視、學校、研究所及工礦企業(yè)生產(chǎn)和科研使用。

高精度晶振綜合測試儀GDS-80采用π型網(wǎng)絡零相位法實現(xiàn)等精度測量。高精度晶振綜合測試儀GDS-80測量精度高，速度快；具有串聯(lián)諧振頻率、負載諧振頻率、串聯(lián)諧振電阻、負載諧振電阻、PPM值、靜電容等參數(shù)測量，可保存5個不同晶振頻率和負載電容參數(shù)，負載電容在2-20P范圍內任意編程設置，從滿足不同負載電容的晶振測試，智能運算克服了市場上晶體阻抗計阻抗數(shù)值顯示不明顯的缺點、解除了手工校對的麻煩，讓晶振測試變得更輕松。

性能特點

1.      阻抗值、ppm同時顯示
2.      無需人工校對，直接測試多種參數(shù)
3.      新技術，符合IEC-444標準，滿足國人需求，可替代進口設備
4.      LCD顯示PPm超標提示功能

技術參數(shù)

3.1 測量范圍： 3.1.1 頻率測量范圍：0.1 Hz ~ 100 MHz

3.1.2 周期測量范圍：10 ns ~ 10 s 3.1.3 計數(shù)容量：1 10 8 3.1.4 ppm：1ppm 3.2 動態(tài)范圍：50 mV ～ 1.5 Vms 3.3 輸入耦合方式：AC 3.4 閘門時間：0.01s 、0.1s 、1s（可設定） 3.5 準確度： 時基準確度 觸發(fā)誤差 被測頻率（周期） LSO 其中LSO = （100 ns / 閘門時間） 被測頻率 （被測周期） 3.6 時基： 3.6.1 標稱頻率：10 MHz 3.6.2 頻率穩(wěn)定度：5 10 7/d 3.7 顯示： 九位LED數(shù)碼管顯示 3.8 電源： 220 V 22 V 50 H z 2.5 Hz 3.9 整機功耗： 10 VA 3.10 可靠性：平均無故障工作時間MTBF 10000 h

采購須知

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