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        山東澤霖節水灌溉器材有限公司
        
        
		
        

	
        
		
         
  		    		
    		
  			
        

        


        
  


        


        

        


 


        
    
        
        
        檢測認證人脈交流通訊錄
    
        

        




        
	
        
	
        
	
        顯微分光膜厚儀
        

	
        
		
        
	
        

	
        
	
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          • OPTM 系列顯微分光膜厚儀
使用顯微光譜法在微小區域內通過絕.對反射率進行測量，可進行高精度膜厚度/光學常數分析。
可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度，例如各種膜、晶片、光學材料和多層膜。 測量時間上，能達到1秒/點的高速測量，并且搭載了 即使是初次使用的用戶，也可容易出分析光學常數的軟件。
頭部集成了薄膜厚度測量所需功能
通過顯微光譜法測量高精度絕.對反射率（多層膜厚度，光學常數）
1點1秒高速測量
顯微分光下廣范圍的光學系統（紫外至近紅外）
區域傳感器的安全機制
易于分析向導，初學者也能夠進行光學常數分析
獨立測量頭對應各種inline客制化需求
支持各種自定義
測量項目：
絕.對反射率測量
多層膜解析
光學常數分析（n：折射率，k：消光系數）
顯微分光膜厚儀https://www.chem17.com/st469006/product_35599161.html
http://www.boming021.com/Products-37821551.html


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