檢測認證人脈交流通訊錄
晶體管動態特性測試系統ST-AC1200
晶體管動態特性測試系統ST-AC1200
基礎信息
高壓源：1200V（選配2000V）
高流源：100A（選配200A/300A/500A）
驅動電壓：±20V（選配±30V）
時間分辨率：1ns（選配400ps/200ps/100ps）
系統雜感：＜20nH
測試對象：Si（SiC/GaN）IGBT,Diode,MOSFET（選配BJT）
變溫測試：常溫~150℃/200℃
感性負載：程控電感（0.01~160mH，步進10uH）
阻性負載：程控電阻（1Ω,2Ω,5Ω,10Ω,50Ω）備用三個
測試管型：可以測試N溝道和P溝道的IGBTs,MOSFETs
測試標準：IEC60747-9/IEC60747-2，GB/T29332/GB/T4023
晶體管動態特性測試系統ST-AC1200
技術特點
專注寬禁帶功率器件動態參數評測，軟件程控，測試條件界面化輸入，系統閉環處理，自動調節一鍵測試；
采用光纖驅動信號通訊，響應速度快，抗干擾能力強；
自動加熱可由室溫~200℃，精度±0.1℃；
測試結果Excel，JPEG波形，波形任意縮放細節展寬分析
測試主功率回路寄生電感Ls<10nH(實測);
柵極驅動電阻Rg端口開放，按設定條件匹配電阻；
DualARM控核，DSP數據采樣計算，極大減少控制時延誤差；
晶體管動態特性測試系統ST-AC1200
試驗能力
√標配，開通特性測試單元/Turn_ON
√標配，關斷特性測試單元/Turn_OFF
√標配，二極管反向恢復測試單元/Trr
√標配，柵電荷測試單元/Qg¨
¨選配，容阻測試單元/CR¨
¨選配，短路測試單元/SC¨
¨選配，雪崩測試單元/UIS¨
¨選配，安全工作區單元/SOA¨
¨選配，動態電阻單元/
晶體管動態特性測試系統ST-AC1200
參數指標
√ 標配（阻性/感性）開關測試單元 / Turn_ON/OFF
漏極電壓： 5V-1200V， 分辨率 1V
漏極電流： 1A-100A， 分辨率1A；
柵極驅動： ±20V （選配±30V）， 分辨率 0.1V
柵極電流： 2A/MAX
脈沖寬度： 1us-500us,步進 0.1us
時間精度： 1ns
感性負載： 0.01mH-160mH 程序控制， 步進 10uH
阻性負載： 1Ω、2Ω、5Ω、10Ω、50Ω , 程控， 備用三個電阻
開關時間： ton/toff： 1-10000ns分辨率1ns （選配400/200/100ps）
開關延遲： td(on)/td(off）： 0.1-10000ns@1ns （選配400/200/100ps）
上下時間/tr/tf： 1-10000ns分辨率1ns （選配400/200/100ps）
開關損耗/ Eon/Eoff： 1-2000mJ 最小分辨率 1uJ
√ 標配 柵極電荷單元 / Qg
驅動電流： 0-2mA， 分辨率 0.01mA
2-20mA， 分辨率 0.1mA
20mA-200mA， 分辨率 1mA
柵極電壓： ±20V （選配±30V） @0.1V
恒流源負載： 1-25A， 分辨率0.1A
25-100A(選配200A/300A)@1A
漏極電壓： 5-100V， 步進 0.1V
100-1200V， 步進 1.0V
柵極電荷 Qg： 1nC-100µC
漏極電荷 Qgs： 1nC-100µC
源極電荷 Qgd： 1nC-100µC
平臺電壓 Vgp： 0~30V， 分辨率 0.1V
√ 標配 二極管反向恢復測試單元 / Qrr_FRD
正向電流： 1A-25A， 分辨率 0.1A
25A-100A （選配200A/300A） 分辨率 1A
反向電壓： 5v-100V， 步進 0.1V
100V-1200V， 步進 1.0v
反向恢復時間 Trr： 1-10000ns， 最小分辨率1ns （選配400/200/100ps）
反向恢復電荷 Qrr： 1nC-100µC， 最小分辨率 1nC；
反向恢復電流 Irm： 1A-100A （選配200A/300A）；
反向恢復損耗 Erec： 1-2000mJ， 最小分辨率 1uJ；
電流下降率 dif/dt： 50-1kA/us；
電壓變化率 dv/dt： 50-1kV/us。
¨ 選配 短路特性測試單元/ SC
電流： 1000A/MAX
脈寬： 1us~100us
柵驅電壓： ±20V （選配±30V） @0.1V
漏極電壓： 5V~100V， 0.1V 分辨率
100V~1200V， 1.0V 分辨率
¨ 選配 雪崩測試單元 / UIS
雪崩耐量/EAS： 100J
雪崩擊穿電壓/2500V
雪崩電流/IAS： 1.0-400A 分辨率 1.0A
感性負載/0.01-160mH@10μH， 程控可調
¨ 選配 容阻測試單元 / CR
掃頻范圍： 0.1MHz～5MHz
漏源極電壓： 1200V， 分辨率 1V
¨ 選配 動態電阻Ron,dy
晶體管動態特性測試系統ST-AC1200
