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PHI-高性能飛行時間二次離子質譜儀

?質譜分析TOF-SIMS 中，根據分子結構反映的質譜，能更詳細的對化學結構進行分析。影像分析影像的分辨率，測量時有種可供選擇: 256 x 256 ,512x512, 1024x1024 ，每個像素點都存貯著質譜的信息。測量之后，任伺區域的質譜都可以在後數據處理時提取出來。深度剖析TOF-SIMS 中，經過反復測量和濺射，得到深層的結構。這段期間內，所有的質譜都會被保存，完成測量后，任意深度的質譜都可以在後數據處理時提取出來。三維剖析深度概況的數據源于在深度改變時樣品結構的變化，在進行完深度分析後不僅可以擁有內部的信息，三維構筑的信息也可以得到。多功能樣品處理樣晶托提供了兩種類型的標準樣晶托，有直徑25mm ，樣晶在樣晶托背面安裝并固定( Back-mount) ，能放個樣品的樣品托，方便對準樣晶高度。也有直接在樣晶托正面安裝樣晶，可放置和樣晶托一般大小的樣晶 (100mm ，方便制樣。加熱冷卻樣品托用液氮冷卻和用加熱器加熱樣晶臺，在-150t 200t 之間可控。樣晶托上配有溫度感應裝置，當樣晶在進樣室開始，軟件即馬上顯示實時溫度回讀。另外也可以選配比較高可達600t只做加熱的樣晶托。 https://www.shuyunsh.com/product-200026.html https://www.shuyunsh.com/product-item-52.html ?

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