Occhio Zephyr系列粒徑及形態分析儀將圖像這一直觀的觀察測量方法與統計學相結合的圖像法顆粒粒度粒形表征不僅能夠得到個別顆粒的直觀信息，還能夠得到樣品的粒徑和形貌的統計信息，從而幫助使用者表征樣品。
Occhio Zephyr系列形態及粒徑分析儀
參數：多達43個粒徑形貌參數的統計結果，可了解樣品總體的概況
(1)粒形參數：等效面積直徑，篩分直徑(內切圓直徑)，平均直徑，Crofton直徑，顆粒長度，顆粒寬度，顆粒zui大長度，體積
(2)粒形參數：ISO 9276-6;7;8規定參數包括ISO圓度,ISO鈍度,ISO緊湊度,ISO線性度等.延伸度,長寬比,圓度,凹度指數,平均灰度,灰度,橢圓寬度,橢圓長度,橢圓度,橢圓比,橢球延伸度,偏心率,實積度,鈍度,粗糙度
(3)粒形參數：磨損指數，晶化度，孔隙度，用戶自定義
(4)數據存儲：oph數據存儲格式可存儲：粒徑分布，粒徑粒形。百分數獨立顆粒圖像及灰度
(5)數據比較：可顯示無上限多樣品比較圖表
(6)可顯示圖表：粒徑分布圖，粒徑百分數，粒形百分數，平均粒形，2D散點分布圖
，3D散點分布圖，樣品圖像百分比，樣品圖像，獨立顆粒圖像
(7)統計工具：形貌學和粒徑過濾方式
(8)顯微鏡模式：有手動選項，可手動設置樣品流速、實時觀察顆粒并顯示顆粒參數、存儲所需顆粒圖像
(9)外部數據分析：可輸入、分析外部數據
分析領域：是篩分法的理想替代方案。適合顆粒，如金剛石、煙草、鹽/糖、塑料、催化劑、研磨劑、碳制品、沙、煤炭、咖啡、耐火材料、食品、聚苯乙烯、玻璃、陶瓷、肥料、藥物、金屬粉末、標準品、水泥、礦石等的質量控制。可在線應用
Occhio Zephyr系列形態及粒徑分析儀主要特點：
精心設計的進樣裝置易于拆卸、方便清洗
專為大顆粒設計的樣品輸送系統無損耗
獨特的光路設計確保聚焦精度，并可消除小顆粒邊緣效應
通過高分辨CMOS得到高清晰顆粒圖像
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