亞微米粒徑電位檢測儀是一種用于測量亞微米級顆粒的粒徑和表面電位的精密儀器。主要基于電泳和激光散射原理進行工作。當顆粒在電場中受到電場力的作用時，會發生電泳現象，通過測量顆粒的電泳速度可以推算出顆粒的大小。同時，當激光照射到顆粒上時，會發生散射現象，通過測量散射光的強度可以進一步獲取顆粒的大小分布信息。結合這兩種技術，儀器可以同時測量顆粒的粒徑和表面電位。

亞微米粒徑電位檢測儀的技術特點：

高精度測量：亞微米粒徑電位檢測儀采用先進的傳感器和算法，能夠實現對亞微米級顆粒的高精度測量。其粒徑測量范圍通常可達0.3nm至數微米，電位測量也具有很高的準確性。

多功能性：該儀器不僅可以測量顆粒的粒徑和電位，還可以提供顆粒的濃度、分散性等重要信息。這些信息對于研究顆粒的性質、穩定性和相互作用等方面具有重要意義。

操作簡便：現代亞微米粒徑電位檢測儀通常配備智能化操作系統，具有自動校準、自動檢測和數據處理等功能。這大大簡化了操作流程，提高了檢測效率。

數據可視化：檢測結果通常以圖表或報告的形式呈現，方便用戶直觀了解顆粒的分布和電位情況。這有助于用戶更好地分析和理解實驗結果。

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