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        北京卓立漢光儀器有限公司
        
        
		
        

	
        
		
         
  		    		
    		
  			
        

        


        
  


        


        

        


 


        
    
        
        
        檢測認證人脈交流通訊錄
    
        

        




        
	
        
	
        
	
        發射光譜/光源光譜測量系統
        

	
        
		
        
	
        

	
        
	
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          • 發射光譜/光源光譜測量系統
ZLX-ES系列發射光譜/光源測量系統

發射光譜/光源測量系統介紹
       發光體，如白熾燈、熒光燈、LED等輻射光譜及發光特性的測試，對研究其特性有很大幫助。系統不僅可測量光源或其他發射光譜分布，而且可在此基礎上得到積分輻射通量、光通量、色坐標等。
    針對不同輻射光源的特性，可靈活選擇測試系統，如：寬帶光源和LED通常分辨率要求不高，可使用Omni-λ150系列單色儀系統；激光器、放電燈、等離子體、原子發射光譜等要求分辨率高，可使用Omni-λ300、Omni-λ500、Omni-λ750系列單色儀系統；寬波長范圍（UV～IR），建議采用雙出口單色儀接兩個探測器；測試寬光譜范圍的發光體，建議采用SD濾光片輪消多級光譜。
系統組成：分光系統＋檢測系統＋數據采集及處理系統＋軟件系統＋計算機系統

 




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