2、低溫測試：

低溫測試（低溫運(yùn)行、低溫貯存）試驗(yàn)的目的是檢驗(yàn)試件能

否在長期的低溫環(huán)境中儲藏、操縱控制，是確定軍民用設(shè)備在低溫條

件下儲存和工作的適應(yīng)性及耐久性。低溫下材料物理化學(xué)性能。標(biāo)準(zhǔn)

中對于試驗(yàn)前處理、試驗(yàn)初始檢測、樣品安裝、中間檢測、試驗(yàn)后處

理、升溫速度、溫度柜負(fù)載條件、被測物與溫度柜體積比等均有規(guī)范

要求。主要用于科研研究、醫(yī)遼用品的保存、生物制品、遠(yuǎn)洋制品、

電子元件、化工材料等特殊材料的低溫實(shí)驗(yàn)及儲存。

低溫條件下試件的失效模式：產(chǎn)品所使用零件、材料在低溫

時(shí)可能發(fā)生龜裂、脆化、可動部卡死、特性改變等現(xiàn)象。

低溫環(huán)境對設(shè)備的主要影響有：

a. 使材料發(fā)硬變脆；

b. 潤滑劑粘度增加，流動能力降低，潤滑作用減小；

c. 電子元器件性能發(fā)生變化；

d. 水冷凝結(jié)冰；

e. 密封件失效；

f. 材料收縮造成機(jī)械結(jié)構(gòu)變化。