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        西安天光測控技術(shù)有限公司

        檢測認(rèn)證人脈交流通訊錄

        LEMSYS汽車級IGBT模塊低電感動態(tài)測試系統(tǒng)

        • 這真不是您需要的產(chǎn)品?
        • 品  牌:
        • 西安天光
        • 主要規(guī)格:
        • ST-AC1520
        • 用  途:
          • ?


            汽車級IGBT模塊的低電感動態(tài)特性測試系統(tǒng)

            品牌型號:瑞士 LEMSYS / TRd 2015


            (天光測控ST-AC1520##替代該系列產(chǎn)品)


            ??一、汽車級IGBT模塊的低電感動態(tài)特性測試系統(tǒng)產(chǎn)品簡述

            ? ? ? ? TRd 2015系列是一款專門針對汽車級IGBT模塊的低電感動態(tài)特性測試系統(tǒng),提供30nH以內(nèi)系統(tǒng)寄生電感,2000A/1500V動態(tài)輸出能力,5500A短路電流,?200度高溫平臺,適用于HPD,HP1,HP2,double side cooling等封裝形式的汽車級模塊。


            二、
            汽車級IGBT模塊的低電感動態(tài)特性測試系統(tǒng)產(chǎn)品特點

            1. 獨立的動態(tài)或靜態(tài)測試,或動靜態(tài)一體測試

            2. 系統(tǒng)整體寄生電感低于30nH

            3. 電流輸出能力10A到2000A(短路的5500A)

            4. 電壓輸出能力從50V到1500V

            5. 雪崩和短路測試可用。

            6. IGBT測試完全符合IEC 60747-9-2.0版

            7. 二極管測試完全兼容測試IEC 60747-2-2.0版

            8. 可定制的測試選項

            9. 完全符合國際安全標(biāo)準(zhǔn)

            10. 提供自動測試平臺,實現(xiàn)和自動化機械的無縫連接

            11. 無縫數(shù)據(jù)傳輸和數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析

            12. *新的圖形用戶界面

            1. 系統(tǒng)整體寄生電感:<30nH

            2. 電流輸出:10A-2000A

            3. 電壓輸出:50V-1500V

            4. 短路電流:*大5500A

            5. 自動測試平臺:BTA 07 無縫兼容自動化測試產(chǎn)線

              ?

            三、汽車級IGBT模塊的低電感動態(tài)特性測試系統(tǒng)測試能力

            1. 柵極漏電流?IGES?:Ige?0?-?10μA,Vge?0-100V

            2. 柵極閥值電壓?VGE(th)??:Vge?0?-?20V?,ice?0-2A

            3. 導(dǎo)通特性?VCEsat:Vce?0?-?10V,Ice?0-8000A

            4. 開通電阻 Rdson:0.1-500ohm

            5. 正向特性?VF:Vf?0?-?10V,If?0.1-2000A

            6. C-E擊穿電壓?VCES:??Ice?0.1uA-100mA?,Vce?0-10000V

            7. 集電極關(guān)斷電流?ICES:?Vce0?-?10000V?Ice0.01?-?100mA

            • 測試選件:

            夾斷電壓 VP?

            • 適用于模塊類型:

            HPD,HP1,HP2,雙面散熱等封裝形式的汽車級模塊


            了解更多 “天光測控ST-AC1520 IGBT模塊動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)”產(chǎn)品詳情,請聯(lián)系我司市場部。

            產(chǎn)品系列
            晶體管圖示儀
            半導(dǎo)體分立器件測試篩選系統(tǒng)
            靜態(tài)參數(shù)測試(包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等)
            動態(tài)參數(shù)測試(包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等)
            環(huán)境老化測試(包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等)
            熱特性測試(包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等)
            可測試 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件

            ?


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