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        北京銳峰先科技術有限公司
        
        
		
        

	
        
		
         
  		    		
    		
  			
        

        


        
  


        


        

        


 


        
    
        
        
        檢測認證人脈交流通訊錄
    
        

        




        
	
        
	
        
	
        F20-XT經(jīng)濟型高級膜厚測試儀
        

	
        
		
        
	
        

	
        
	
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        • 品　　牌：
        
	
	
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          • F20-XT經(jīng)濟型高級膜厚測試儀,膜厚儀，薄膜測厚儀（北京，上海，深圳，成都，西安均有辦事處提供服務）


主要用于測試各種透明半透明的膜厚.

產(chǎn)品簡介： 

1  是在F20-NIR的基礎上專為測試厚膜而設計的，波長范圍從1200nm到1450nm，在NIR波長分辨率為 0.5nm； 
2  薄膜厚度的測量范圍是：0.2～ 450um（低光學參數(shù)薄膜），0.1～160um（Si及其它半導體），精度都好于0.4%。 

應用領域 : 

1  微機電系統(tǒng)MEMS； 
2  絕緣體上硅SOI； 
3  倒裝芯片F(xiàn)lip Chips； 
4  厚聚合物 。
 
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