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        北京銳峰先科技術有限公司
        
        
		
        

	
        
		
         
  		    		
    		
  			
        

        


        
  


        


        

        


 


        
    
        
        
        檢測認證人脈交流通訊錄
    
        

        




        
	
        
	
        
	
        F30透明/半透明膜膜厚測試儀
        

	
        
		
        
	
        

	
        
	
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          • F30透明/半透明膜膜厚測試儀，膜厚儀，薄膜測厚儀（北京，上海，深圳，成都，西安均有辦事處提供服務）


主要用于測試各種透明半透明的膜厚。

產品簡介：

*是監測薄膜沉積的最有效工具，可安裝在任何真空鍍膜機腔體外的窗口，實時監控長晶速度，實時測量膜厚、 n 、 k 值以及半導體和絕緣體涂層的均勻性。可加裝三個探頭，同時測量三個樣品，有三種不同波長選擇 ( 波長范圍從可見光 400nm 至近紅外1700nm)； 
*測量的薄膜厚度范圍從 15nm 到 250um； 
*測量精度優于1% 。 

主要特點： 

*測量精度高，優于 1% ； 
*測量速度快，幾秒鐘內可完成測量； 
*整套設備可放置在沉積室外； 
*操作簡單，使用方便； 
*價格便宜 

應用領域:

*分子束外延MBE； 
*金屬有機物化學氣相沉積MOCVD； 
*材料研究； 
*光電鍍膜應用: 硬化膜、抗反射膜、濾波片。
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