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        鉑悅儀器（上海）有限公司 廣州辦事處
        
        
		
        

	
        
		
         
  		    		
    		
  			
        

        


        
  


        


        

        


 


        
    
        
        
        檢測認證人脈交流通訊錄
    
        

        




        
	
        
	
        
	
        探針式輪廓儀(臺階儀/膜厚儀) Dektak XT
        

	
        
		
        
	
        

	
        
	
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          • 　　探針式輪廓儀(臺階儀/膜厚儀) Dektak XT　　布魯克Dektak XT臺階儀(探針式表面輪廓儀)是一項創新性的設計，可以提供無與倫比的重現性，重現性低于5Å。臺階儀這項性能的提高達到了過去40年Dektak技術創新的頂峰，更加鞏固了其行業領先地位。通過整合其行業領先產品，Dektak XT實現了最高性能。操作簡易，從研發到質量控制都有更好的過程控制。整合了技術突破到第十代Dektak XT臺階儀，能夠在微電子，半導體，超高亮度發光二極管(LED)、醫學、材料探針式輪廓儀(臺階儀/膜厚儀) Dektak XT科學等行業實現納米級表面形貌測量。　　  Dektak XT技術參數：　　1.   臺階高度重復性5Å       2.   單拱(Single-arch)設計大大提高了掃描穩定性　　3.   前置敏化器件，降低了噪音對測量的干擾　　4.   新的硬件配置使數據采集能力提高了40%　　5.   64-bit，Vision64同步數據處理軟件，使數據分析速度提高了十倍。　　6.   功能卓越，操作簡易　　7.   直觀的Vision64用戶界面操作流程簡便易行　　8.   針尖自動校準系統讓用戶更換針尖不再是難事　　9.   臺階儀(表面輪廓儀)領域無可撼動的世界領先地位10. 單傳感器設計提供了單一平面上低作用力和寬掃描范圍
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