深圳市美信檢測技術有限公司

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X射線光電子能譜(XPS),也稱為電子光譜化學分析儀(ESCA) ，用來測量定量原子組成和化學成分。它是取樣范圍從表面到深度大約 50-70?的分析技術。或者, XPS也可用通過量化材料本體級分子進行特征化薄膜濺射深度剖面。 XPS是一種元素分析技術,提供獨特的被檢測元素的化學狀態(tài)信息，如，測量硫元素中硫酸鹽和硫化物的形式。這個過程是用單色X射線照射樣品而產生散射光電子, 這些光電子釋放的能量是取樣范圍內元素的特征。利用這項技術在不同領域的多種應用中幫助客戶研發(fā)以及發(fā)展工藝: ? 測量表面成分及化學狀態(tài)信息 ? 描述清潔過程 ? 分析粉末和碎片的主成分 ? 有機材料、無機材料、污點、殘留物的表面分析，識別污染源 ? 識別和量化表面變化前后聚合物的功能性檢測 ? 測量硬盤上的潤滑劑厚度 ? 為材料本體水平元素獲取薄膜(導電的和非導電的)深度剖面 ? 薄膜氧化物厚度測量（SiO2, Al2O3 等.）或估算兩個樣品氧化層厚度的不同 ? 檢測極限通常在~ 0.01 %，最小的分析面積是~10 μm 歡迎來電咨詢。咨詢電話：189 2932 2016；聯系QQ：254755933;

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曾菲

X射線光電子能譜/電子光譜化學分析儀(XPS/ESCA)