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        廣州智慧源電子有限公司

        檢測認證人脈交流通訊錄

        晶體阻抗計GDS-80S晶振測試儀

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        • 品  牌:
        • 智慧源
        • 主要規格:
        • 標準
        • 用  途:
        • 測試晶振
          • 晶振測試主要方法主要經歷了早期的晶體阻抗計,到目前主流的網絡分析儀方案。早期的晶體阻抗計檢定依據為JJG(電子) 05053-1995 晶體阻抗計檢定規程,代表產品有安捷倫HP4915A/4916A,S&A 150等;經歷了約20年的發展,2023年國際公認的測試方法為網絡分析儀測試方案,依據標準為GB∕T22319.11-2018/IEC 60444-11:2010《石英晶體元件參數的測量第11部分:采用自動網絡分析技術和誤差校正確定負載諧振頻率和有效負載電容的標準方法》,典型產品有智慧源的GDS-80系列等。

            工作原理

            晶振測試儀GDS-80系列采用π型網絡零相位法實現串聯諧振頻率的測量,采用直接阻抗法來測試負載諧振頻率和負載電容,它測量精度高,速度快。具有串聯諧振頻率Fs、負載諧振頻率FL、串聯諧振電阻Rs、負載諧振電阻RL、負載電容CL、動態電容C1、動態電感L1、品質因數Q、靜電容C0、頻率牽引力Ts等參數測量功能。

            功能配置

             播報

            自動測試功能;

            超值報警功能

            上位機軟件通信功能

            尺寸參數

             播報

            250*280*150mm

            產品特點

             


             播報

            1. 中心頻率范圍: 10KHz-200KHz,1MHz-200MHz任意設定

            2. 掃描范圍:±1000ppm(默認±400ppm)

            3. 負載電容:1-100P 任意設定

            4. 串聯諧振頻率Fs測量范圍:±1000ppm(默認±400ppm) 測量精度:±5ppm

            5. 串聯諧振電阻Fr:1MHz-100MHz:1Ω-1000Ω (2±10%*R Ω)

            10KHz-200KHz:10K-300K (2±10%*R KΩ)

            6. 負載電容CL測量范圍:1-200PF

            7. 時基誤差:±1ppm

            8. 負載諧振頻率FL測量精度:±5ppm+時基誤差+0.5Pf*頻率牽引力Ts

            注意事項

             播報

            1.設備需要定期進行PI網絡校準

            2.設備需要定期進行頻率校準

             

             

             

            問題一:怎么測量一個晶振的好壞? 一個小技巧:沒有示波器情況下如何測量晶振是否起振。
            可以用萬用表測量晶振兩個引腳電壓是否是芯片工作電壓的一半,比如工常電壓是5V則是否是2.5V左右。另外如果用鑷子碰晶體另外一個腳,這個電壓有明顯變化,證明是起振了的

            問題二:如何用萬用表測量晶振 將晶體從PCB上拆下,用萬用表R×10k擋測量引腳兩端,好的晶體應為無窮大。但這樣也只能測量晶體的絕緣電阻,僅此而已。事實上,晶體的絕緣電阻大于500MOhm,這個級別的絕緣萬用表也是測量不了的。真要想測量絕緣電阻,需要用到絕緣電阻測試儀。
             

          廣州智慧源電子有限公司

          郭先生

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